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晶圓測試探針臺,射頻測試探針臺

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-05-11 14:12

品  牌:其他型  號:

狀  態(tài):正常點擊量:2511

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上海非利加實業(yè)有限公司

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產品參數

晶圓測試探針臺主要性能參數:

規(guī)格

Chuck(可選)

4" 或6" 不銹鋼,真空吸附型,獨立開關控制

Chuck X-Y軸行程,精度

4" x4",10um

Chuck 旋轉角度

0~360 度

Chuck 旋轉角度微調精度

0.01°

Chuck快速升降(選配)

4mm

Chuck微調升降(選配)

4mm ,1um精度

Chuck 平整度

5um

針座平臺

C型設計,可放置8個BT 型針座,可擴展為O型平臺

針座平臺平整度

5 um

顯微鏡Z軸行程,精度

2",細調精度0.1um

需求

電力

220 VAC, 60Hz


真空

-250 mmHg, 7 liter/min


尺寸

320mm寬*320mm長*400mm高(帶顯微鏡)

重 20 Kg(帶顯微鏡) 

可選附件

激光切割

加熱臺

防震桌

顯微鏡暗場 / DIC/Normarski 檢測

光強/波長測試接口部件

射頻測試探頭和線纜

有源探頭

低電流/電容測試

高壓測試

CCD視頻系統(tǒng)

液晶漏電分析套裝

屏蔽箱

鍍金Chuck



產品介紹

CS系列 探針臺造型小巧,測量精度高,操作方便,符合人機工程學。主要應用于半導體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)。

 

CS探針臺能夠勝任的測試有:

序號

根據測試樣品分類


序號

根據應用分類

1

晶圓測試


1

射頻測試

2

LED測試


2

高溫環(huán)境測試

3

功率器件測試


3

低電流(100fA ***)測試

4

MEMS測試


4

I-v/c-v/p-iv測試

5

PCB測試


5

高壓,大電流測試

6

液晶面板測試


6

磁場環(huán)境測試

7

太陽能電池片測試


7

輻射環(huán)境測試

8

材料表面電阻率測試


9

積分球測試


應用領域:

探針臺應放在穩(wěn)定可靠的臺面上,是具有防震裝置的工作臺上,避免在高溫,潮濕激烈震動,陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。

使用*佳溫度范圍為5℃~40℃,*佳濕度是40%到85%,空氣中之濕度若低于30%以下,可靠濕度控制器予以控制,使維持50%~60%之范圍。使用時門窗盡可能關閉,使室內達到除濕效果。

使用電源:220±10%,50~60Hz

 




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