二探針測試儀概述:
二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法******標準并參考美*** A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。