探針臺用防震桌
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-05-12 14:08
品 牌:其他型 號:CBPT-G
狀 態(tài):正常點擊量:1519
400-006-7520
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上海非利加實業(yè)有限公司
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產(chǎn)品參數(shù)
探針臺用防震桌技術參數(shù):
可測片型:3 inch、 4 inch
測試硅片單元尺寸:20—200 mil
定位精度:≤ ±0.01mm/110mm
自動對準精度:±0.01mm
誤測率:≤ 1 ‰
全自動對位時間:≤ 15 s
測試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進分辨率:0.001
Z向行程:0~5mm 可調(diào)
承片臺轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍:±20o
平臺表面粗糙度1?2um
平面度0.02 ~ 0.05 mm/m2
固有頻率6 ~ 8 Hz
型號:
型號 | 大小(mm) | 支撐腿數(shù) | 孔距(mm) |
CBPT-G06-06 | 600×600×800 | 4 | 25 |
CBPT-G075-075 | 750×750×800 | 4 | 25 |
CBPT-G09-06 | 900×600×800 | 4 | 25 |
CBPT-G10-07 | 1000×700×800 | 4 | 25 |
CBPT-G10-08 | 1000×800×800 | 4 | 25 |
CBPT-G12-08 | 1200×800×800 | 4 | 25 |
CBPT-G15-09 | 1500×900×800 | 4 | 25 |
CBPT-G15-10 | 1500×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G16-09 | 1600×900×800 | 4 | 25 |
CBPT-G18-10 | 1800×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G20-10 | 2000×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G20-12 | 2000×1200×800 | 4 | 25 |
CBPT-G24-12 | 2400×1200×800 | 4 | 25 |
CBPT-G30-10 | 3000×1000×800 | 4 | 50 |
CBPT-G30-12 | 3000×1200×800 | 4 | 50 |
CBPT-G30-15 | 3000×1500×800 | 4 | 50 |
CBPT-G35-12 | 3500×1200×800 | 6 | 50 |
CBPT-G35-15 | 3500×1500×800 | 6 | 50 |
CBPT-G40-15 | 4000×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G42-15 | 4200×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G48-15 | 4800×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G54-15 | 5400×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G60-15 | 6000×1500×800 | 6 | 100 |
產(chǎn)品介紹
CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能 對晶片實現(xiàn)自動對位測試,操作簡單, 快捷,測試精度高,具有MAP顯示功 能。它與測試儀連接后,能自動完成 對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能 測試 。 |
|
操作方式 CBTZ-3100Z型自動對位探針臺 提供了清晰直觀的觸屏操作頁面, 手觸點擊即可完成對晶片的自動對 位測試。
機器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡潔 方 便的小鍵盤操作方式,操作者可依據(jù) 個人偏好和習慣選擇任意種操作 。
功能小鍵盤 |
機器功能 具有自動掃描對位功能,對位精度 高、速速快,Windows7界面,動態(tài)map 圖顯示測試過程。 | 具有圓形測試,范圍重測,探邊 測試,范圍打點,回收測試,矩形 測試和脫機打點多種測試功能。 |
具有X、Y、Z三軸運動結(jié)構(gòu),操作軟 件能對垂直度、平面度進行精度補償,保 證機器的控制精度和工作的穩(wěn)定性。 | 具有實時打點、脫機打點和滯 后打點功能。新型打點器,使用時 間長達3天,不滴墨,省去60%的操作時間。 |
具有Z軸行程分段運動功能,其 分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、 過沖高度和折回高度,并且具有探邊 功能,防止測試過程中探針對芯片的 劃傷和探針與芯片的接觸不良。 | 測試針痕比例圖片(反光白點為針痕)
多個芯粒 |
特點:隔振支撐采用高***復合材料隔振,隔振性能接近充氣平臺,維護調(diào)整工作量少,結(jié)構(gòu)穩(wěn)固。
應用范圍:環(huán)境振動較好,且要求垂向位移變化小的實驗。