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原子力顯微鏡(AFM)
德國BMT AFM 2000/3000/4000 原子力顯微鏡
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-01-18 15:15
品 牌:型 號:AFM 2000/3000/4000
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德***BMT AFM 2000/3000/4000 原子力顯微鏡 |
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德***BMT AFM原子力顯微鏡 在當今工業生產中對納米***表面結構的了解日益重要。這些應用包含了從內燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層,以及現代車用噴漆,從半導體工業到醫用技術。傳統方法已經無法處理上述的長度空間。但同時可以看到,對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進行描述日益成為工業界和科研機構的迫切需求,例如在局部極小的尺寸內對化學反應過程,腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應用,它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結構。而這樣大的測量范圍只需使用同***臺設備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功,市場上終于出現了***臺掃描原子力顯微鏡,它的突出特點是模塊化結構、高度靈活性而且操作極其簡便。它獨特的測量模塊運用了化學對比度成像(Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ,這種新技術可以檢測到表面極其微量的化學變化,這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學反應實際發生的位置,這些反應通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息:從采樣點表面形貌到摩擦,磨損和接觸剛性,***直到化學對比度。 主要特點: · 操作極其簡便,用戶控制,模塊化構造 · 多用掃描 測量頭,就極高的穩定性作了優化 · 多測量模式選擇:接觸模式,非接觸模式,震蕩接觸模式,力調制顯微鏡,摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡,力譜儀,相位對比度。使用同***個測量頭可達到的掃描范圍從納米***到面積為 200 µm x 200µm · 包括化學對比度成像 (CCI-AFM) 模式 · 包括保護氣體選項 · 可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量 · 包括可在液體中測量的工作方式 · 極有用途的附加模塊包括:納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構造 (LithoScan) · 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊,根據特殊要求可提供應用實例 技術數據: 試樣尺寸 | 25 mm x 25 mm | 調節距離 | 在x,y方向可達20 mm x 20 mm | 步進電機 | z方向可達15 mm | 環境條件 | 普通環境條件常規運行(接觸空氣,室溫);此外也可在保護氣體和液體中工作 | 掃描儀 | X、 y、z方向壓電掃描。 掃描范圍x,y方向可達 800μm | 分辨率 | 可達原子尺度 | 步進電機 | 15 mm行程 | 通道 | 從上方和側向有備用通道:例如安裝拉曼光譜設備 | 電子元件 | 數字控制器,PC機經USB接口驅動 | 軟件 | 用戶友好的測量和分析軟件包 | 數據采集 | 并行采集顯示多個測量通道(例如 表面形貌和化學對比度) | 數據分析 | 功能全面的圖像處理和數據分析軟件(包含統計函數、粗糙度分析等等) | |