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掃描電子顯微鏡(SEM)
高速分析熱場發射掃描電子顯微鏡廠家直銷
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-01-18 15:08
品 牌:型 號:JSM-7001F
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掃描電子顯微鏡。主要特點為全數字化控制系統,高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭;用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。
我司是******專業生產,進口ROHS環保檢測儀,X熒光光譜儀、手持式合金分析儀、重金屬分析儀、XRF射線鍍層測厚儀/膜厚儀,近紅外在線檢測儀,ICP等離子光譜儀,Gc-Ms氣相色譜聯用儀,AAS原子吸收分光光度計,HPLC高效液相色譜儀,UV紫外線分光光度計,掃描電鏡另有免費檢測儀器,儀器租贅---試機--維護升***保養以及以舊換新等活動聯系人胡先生: QQ 技術參數:1.分辨率:1.2nm(30kV)/3.0nm(1kV)2.加速電壓:0.2KV-30kV3.放大倍數:10-100萬倍4.大束流高分辨5nA,WD10mm,15kV時分辨率3.0nm5.束流強度:1pA到200nA(15KV)主要特點:1.浸沒式熱場發射電子槍,束流強度200nA(15KV)2.無漏磁物鏡設計,便于磁性樣品觀測和EBSP觀測不變形3.自動光闌角控制器,無需調整光闌4.全自動控制聚焦、合軸、消像散、控制掃描速度5.適于配合多種分析性探頭