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現在位置首頁>光學儀器>電子顯微鏡> 掃描電子顯微鏡(SEM)

TESCAN大樣品倉礦物分析儀系統

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-18 15:06

品  牌:型  號:TIMA-X(FEG GMU/GMH)

狀  態:正常點擊量:2125

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TESCAN綜合礦物分析儀(TIMA)是***款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應用范圍很寬,包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于***個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的***體化技術提供了前所未有的數據采集速度,進而得到快速、準確和可靠的結果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計(電子槍的恒真空與隔絕閥)提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準,低真空模式為選配。

大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒(BSE信號校準)與錳、 銅、 石英、碳和金元素(系統性能檢查)。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。

 

配件:


  • 二次電子探頭

  • 背散射電子探頭

  • 探針電流測量

  • 壓差式防碰撞報警裝置

  • 可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等,各種配件可供選擇



產品參數


產品介紹



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