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掃描電子顯微鏡（SEM）
JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:03
品 牌：型 號：JEM-2800
狀 態：正常點擊量：1992
400-006-7520
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JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的***款特殊設計的產品，在兼顧高分辨高穩定性的同時，*求分析效率的化和操作的自動化。顛覆傳統的電鏡外觀設計，除了讓人耳目***新外，還對設置環境更具抗干擾能力。
主要技術指標：
1. 點分辨率：0.21nm；
2. 晶格分辨率：0.1nm;
3. STEM 分辨率：0.16nm；
4. 二次電子分辨率：0.5nm；
5. 能譜：可以安裝兩個超***能譜
6. 洛倫茲模式：標配
滬公網安備31011502016460號
