GeminiSEM 系列產(chǎn)品
高對(duì)比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
為對(duì)任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
GeminiSEM 500 具有出色的分辨率,在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息,其創(chuàng)新設(shè)計(jì)的NanoVP可變壓力模式,甚至讓您在使用時(shí)擁有在高真空模式下工作的感覺;
更強(qiáng)的信號(hào),更豐富的細(xì)節(jié)
GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息,尤其在低的加速電壓下,在避免樣品損傷的同時(shí)快速地獲取更高清晰度的圖像。
經(jīng)優(yōu)化和增強(qiáng)的Inlens探測器可高效地采集信號(hào),助您快速地獲取清晰的圖像,并使樣品損傷降至更低;
在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度,二次電子圖像分辨率1 kV達(dá)0.9nm,500 V達(dá)1.0 nm,無需樣品臺(tái)減速即可進(jìn)行高質(zhì)量的低電壓成像,為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細(xì)節(jié)信息;
應(yīng)用樣品臺(tái)減速技術(shù)-(Tandem decel),可在1 kV下獲得高達(dá)0.8nm二次電子圖像分辨率;
創(chuàng)新設(shè)計(jì)的可變壓力模式-NanoVP技術(shù),讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。
洞察產(chǎn)品背后的科技
Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)
Gemini 1類型鏡筒 -延續(xù)創(chuàng)新和發(fā)展
如今,掃描電子顯微鏡(SEM)在低電壓下的高分辨成像能力,已成為其在各項(xiàng)應(yīng)用領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)配置。
低電壓下的高分辨率成像能力,在以下應(yīng)用領(lǐng)域中扮演著尤為重要的角色:
電子束敏感樣品
不導(dǎo)電樣品
獲取樣品極表面的真實(shí)形貌信息
Gemini的革新電子光學(xué)設(shè)計(jì),應(yīng)用高分辨率電子槍模式、Nano-twin lens物鏡(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel樣品臺(tái)減速技術(shù)(選配),有效提高了在低電壓時(shí)的信號(hào)采集效率和圖像襯度。
高分辨率電子槍模式:
縮小30%的出射電子束能量展寬,有效地降低像差;
獲得更小的束斑。
優(yōu)化靜電場和磁場的復(fù)合功效,在低電壓下具有的更高的分辨率;
提高鏡筒內(nèi)Inlens探測器在低電壓下的信號(hào)采集效率。
技術(shù)參數(shù):
基本規(guī)格 | 蔡司 GeminiSEM 500 |
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| 熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h
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加速電壓
| 0.02 - 30 kV |
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探針電流
| 3 pA - 20 nA |
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(100 nA配置可選)
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存儲(chǔ)分辨率
| 達(dá)32k × 24k 像素 |
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放大倍率
| 50 C 2,000,000 |
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標(biāo)配探測器
| 鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器
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樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測器
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可選配的 項(xiàng)目
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NanoVP可變壓力模式 |
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)
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局部電荷中和器 鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器 環(huán)形STEM探測器(aSTEM 4) EDS能譜儀 EBSD探測器(背散射電子衍射) |
可訂制特殊功能樣品臺(tái) |
環(huán)形背散射電子探測器 |
陰極射線熒光探測器 |