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殘余應力測量儀 PA-Micro

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-21 11:00

品  牌:其他型  號:PA-Micro

狀  態:正常點擊量:1585

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產品參數


產品介紹

殘余應力測量儀 PA-Micro

   PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

  


主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內可***次測量,測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


應用領域:

  • 通信光纖

  • 晶體



技術參數:

    項次

           項目            

具體參數

1

輸出項目

          相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】


2

測量波長

520nm


3

雙折射測量范圍

0-130nm


4

測量***小分辨率

0.001nm


5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)


6

視野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2,×5,×10,×20,×50)


7

選配鏡頭視野


8

選配功能    

            實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制





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