干涉顯微鏡、光切法顯微鏡等各種光學測量儀器
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-01-18 19:41
品 牌:型 號:6JA
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干涉
顯微鏡配各種附件,還能測量粒狀,加工紋路混亂的表面,低反 射率的工件表面。同時還能將
儀器安置在工件上,對大型工件表面進行測量。
儀器測量表面不平深度范圍為1~0.03微米,用測微目鏡和照相方法來評定10~14光潔度的表面。
本儀器適用于廠礦企業計量室,精密加工車間,也適用于高等院校,科學研究等單位。