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薄膜應力及基底翹曲測試設備和厚度測量設備

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-18 16:40

品  牌:型  號:FSM128、FSM413

狀  態:正常點擊量:1080

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上海非利加實業有限公司

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廠***正式授權代理商:岱美有限公司

聯系電話:13521289948,(賈先生)

聯系地址:北京市房山區啟航3期5號樓801

公司網址:www.dymek.cn



FSM 128 薄膜應力及基底翹曲測試設備

 

如果您對該產品感興趣的話,可以給我留言!

 

產品名稱:FSM 128 薄膜應力及基底翹曲測試設備

產品型號:FSM 128, 500TC, 900TC

 

1.  簡單介紹

FSM 128 薄膜應力及基底翹曲測試設備:美***Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導體行業等行業提供各式精密的測量設備,客戶遍布全世界, 主要產品包括:光學測量設備: 三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT)

 

 

2.   產品簡介:

FSM128 薄膜應力及基底翹曲測試設備

在襯底鍍上不同的薄膜后, 因為兩者材質不***樣,以及不同的材料不同溫度下特性不***樣, 所以會引起應力。 如應力太大會引起薄膜脫落, zui終引致組件失效或可靠性不佳的問題。 薄膜應力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計算出應力, 是品檢及改進工藝的有效手段。

 

1)   快速、非接觸式測量

2)   128型號適用于3至8寸晶圓

128L型號適用于12寸晶圓

128G 型號適用于470 X 370mm樣品,

另可按要求訂做不同尺寸的樣品臺 

3)   雙激光自動轉換技術

如某***波長激光在樣本反射度不足,系統會自動使用

另***波長激光進行掃瞄,滿足不同材料的應用

4)   全自動平臺,可以進行2D及3D掃瞄(可選)

5)   可加入更多功能滿足研發的需求

電介質厚度測量

光致發光激振光譜分析

(III-V族的缺陷研究)

6)   500 及 900°C高溫型號可選

7)   樣品上有圖案亦適用

 

 

3.  規格:

1)   測量方式: 非接觸式(激光掃瞄)

2)   樣本尺寸: 

FSM 128NT: 75 mm to 200 mm

FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm

FSM 128G: zui大550×650 mm

3)   掃瞄方式: 高精度單次掃瞄、2D/ 3D掃瞄(可選)

4)   激光強度: 根據樣本反射度自動調節

5)   激光波長:  650nm及780nm自動切換(其它波長可選)

6)   薄膜應力范圍: 1 MPa — 4 GPa

(硅片翹曲或彎曲度變化大于1 micron)

7)   重復性: 1% (1 sigma)*

8)   準確度: ≤ 2.5%

使用20米半徑球面鏡

9)   設備尺寸及重量:

FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 50 lbs

FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 70 lbs

FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 200 lbs

電源 : 110V/220V, 20A

 


 

FSM413 紅外干涉測量設備

如果您對該產品感興趣的話,可以給我留言!

 

產品名稱:FSM 413 紅外干涉測量設備

產品型號:FSM 413EC, FSM 413MOT,FSM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C

1.  簡單介紹

FSM 128 薄膜應力及基底翹曲測試設備:美***Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導體行業等行業提供各式精密的測量設備,客戶遍布全世界, 主要產品包括:光學測量設備: 三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT)

 

 

 

2.  產品簡介:

FSM 413 紅外干涉測量設備

1)   紅外干涉測量技術, 非接觸式測量

2)   適用于所有可讓紅外線通過的材料

硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石  英、聚合物…

 

3.  應用:

    襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)

    平整度

    厚度變化 (TTV)

    溝槽深度

    過孔尺寸、深度、側壁角度

    粗糙度

    薄膜厚度

    環氧樹脂厚度

    襯底翹曲度

    晶圓凸點高度(bump height)

    MEMS 薄膜測量

    TSV 深度、側壁角度…

4.  規格:

 

1)   測量方式: 紅外干涉(非接觸式)

2)   樣本尺寸:  50、75、100、200、300 mm, 也可以訂做客戶需要的產品尺寸

3)   測量厚度: 15 — 780 μm (單探頭)

          3 mm (雙探頭總厚度測量)

4)   掃瞄方式: 半自動及全自動型號,

         另2D/3D掃瞄(Mapping)可選

5)   襯底厚度測量: TTV、平均值、*小值、*大值、公差。。。

6)   粗糙度: 20 — 1000Å (RMS)

7)   重復性: 0.1 μm (1 sigma)單探頭*

       0.8 μm (1 sigma)雙探頭*

8)   分辨率: 10 nm

9)   設備尺寸:

413-200: 26”(W) x 38 (D) x 56 (H)

413-300: 32”(W) x 46 (D) x 66 (H) 

10) 重量: 500 lbs

11) 電源 : 110V/220VAC     

12) 真空: 100 mm Hg

13) 樣本表面光滑(***般粗糙度小于0.1μm RMS)

150μm厚硅片(沒圖案、雙面拋光并沒有摻雜)

上海分公司

地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室

電話: (021) 3861 3675,3861 3676

卜先生:  xppu@dymek.com

 

東莞分公司

地址: 東莞市南城街道宏六路***號***金大廈401室

電話: (0769) 8981 8868,22423308

唐小姐:cptang@dymek.com

 

北京分公司

地址: 北京市房山區長陽鎮啟航3期5號樓801

電話: (010) 6261 5731,6261 5735

賈先生: williamjia@dymek.com


產品參數


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