Thermo Scienti?c? Prisma? E SEM結合了全面的成像性能和獨特的環(huán)境模式（Thermo Scienti?c ESEM?），同時兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿足多用戶實驗室的綜合應用需求。

學術和工業(yè)研究實驗室希望現(xiàn)代SEM能夠從*廣泛的樣品中獲得大量數(shù)據(jù)，并獲得出色的圖像質(zhì)量。由于大多數(shù)實驗室都是多用戶設施，確保所有經(jīng)驗***別的操作者都可以訪問所有數(shù)據(jù)，易用性至關重要。Prisma E SEM 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM?）使得系統(tǒng)極具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類型，包括放氣的、未鍍導電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。多種檢測器選項（定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等）提供了所有必要的樣品信息。探測器信號同步采集和顯示，可以在*短的時間內(nèi)提供答案。此外，ESEM可以提供真實環(huán)境條件對樣品進行原位研究，例如在濕潤、高溫、潮濕或反應性環(huán)境中的樣品觀察。Prisma E SEM 還包括***系列軟件集成的原位實驗臺，用于執(zhí)行和控制動態(tài)實驗。

Prisma E SEM 的分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結構分析需求，它同時支持相對的雙能譜（EDS）探測器用于增強信號并去除陰影效應；此外，支持共面的能譜（EDS）/電子背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測器以確保各個探測器獲得*佳的采集位置。 得益于Prisma E SEM 強大的原位功能，對于絕緣樣品或者需要高溫條件的實驗都能獲得更加可靠的分析結果。