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掃描探針顯微鏡（SPM）
抗干擾介質損耗測試儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:12
品 牌：型 號：
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本公司***報道:
抗干擾介質損耗測試儀 產品簡介： 是***種的測量介質損耗(tgδ)和電容器容量(Cx)的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗，(tgδ)和電容器容量(Cx)它淘汰了 QS 高壓電橋。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間(在***內同類產品中速度*快)體積小、重量輕等特點。 產品參數 準確度： Cx: ±（讀數×1%+1pF） tgδ: ±（讀數×1%+0.00040） 抗干擾指標： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度 電容量范圍： 內施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV 外施高壓： 3pF～0.5μF/10kV 60pF～10μF/0.5kV 分辨率： zui高0.001pF，4位有效數字 tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。 試驗電流范圍：10μA～1A 內施高壓：設定電壓范圍：0.5～10kV 電壓分辨率：1V 精度：2% zui大輸出電流：200mA 升降壓方式：連續平滑調節 試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻 頻率精度：±0.01Hz 抗干擾介質損耗測試儀外施高壓：正接線時zui大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz 反接線時zui大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A 測量時間：約36s，與測量方式有關 輸入電源： 180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機供電 計算機接口： 標準RS232接口 更多訪問：http://www.ybzhan.cn/st112611/list_638937.html http://www.by-jiuyi.com/ParentList-638937.html
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