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同軸光體視顯微鏡PXS8-Te特點：

適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質(zhì)控制、裝配、公安、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農(nóng)業(yè)選種，紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。PXS8-Te來自美***的品牌，目前***內(nèi)僅有的高倍立體顯微鏡，我們采用和***外同步的同軸光技術，以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。
品質(zhì)優(yōu)良的光學系統(tǒng)使圖像更明亮，即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。
粗微動的調(diào)焦***次應用在高倍體視上，使高倍調(diào)焦變得更加***。
多種支架的選配，總能滿足復雜工位的操作要求。
還有各種光譜光源的配合，幫助解決碰到的困難。

同軸光體視顯微鏡PXS8-Te主要技術參數(shù)：

鏡筒：雙目，45度傾斜
高眼點大視野目鏡：PLAN10X/20 mm
物鏡：0.9X-7.4X
變倍比：1：8.2
總放大倍數(shù)：9-74X
調(diào)焦：粗微動調(diào)焦，粗動立桿高度300mm，升降范圍105mm
工作距離：102mm

光源:同軸光.