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高純鍺(HPGe)γ能譜儀

高純鍺(HPGe)γ能譜儀

高純鍺(HPGe)γ能譜儀

ORTEC高純鍺HPGe探測器制造已有近半世紀(jì)的歷史，多年來不斷發(fā)展和提升探測器的性能和種類，可提供不同種類的探測器，相對效率涵蓋5%至200%，滿足不同領(lǐng)域的特殊應(yīng)用。

探測器：
GEM系列：P型同軸HPGe探測器
GMX系列：N型同軸HPGe探測器
GEM Profile系列：P型優(yōu)化同軸HPGe探測器
GWL系列：井型HPGe探測器
SGD系列：核保障與無損分析專用HPGe探測器

多道分析器：
高的數(shù)據(jù)通過率：大于100Kcps
數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動極零、自動*優(yōu)化
用戶可預(yù)置多個(gè)核素的MDA，在所有MDA滿足時(shí)自動終止計(jì)數(shù)
道數(shù)：16K道
非線性：積分非線性：≤ ±0.025%；微分非線性：≤ ±1%
溫度系數(shù)：增益:<35ppm/&deg;C；零點(diǎn):<3 ppm/&deg;C

軟件：
ORTEC的譜獲取軟件可識別并處理其所有形式和型號的MCA的信號，對于系統(tǒng)的***切參數(shù)設(shè)置在同***軟件界面下完成；有非常靈活、完整的報(bào)告生成方式。
具體的功能包括能譜獲取，能量刻度，全能峰識別，編輯核素峰庫，建立、存儲和打印感興趣區(qū)(ROI)，通過簡單的&ldquo;任務(wù)流&rdquo;自動執(zhí)行任務(wù)等。軟件可實(shí)現(xiàn)的參數(shù)設(shè)置包括：增益細(xì)調(diào)、啟動數(shù)字化穩(wěn)譜、調(diào)節(jié)高壓、顯示實(shí)時(shí)間/活時(shí)間和脈沖寬度、設(shè)置上下甄別閾等。

其它附件：
便攜式液氮罐
電制冷
***產(chǎn)低本底鉛室：本底值：2.0cps(40%HPGe，全譜) 
                厚度：10cm低本底鉛(可選15cm老鉛)
                內(nèi)腔尺寸：&Phi;30cm x 40cm