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膜厚測量儀

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-15 18:06

品  牌:型  號:CMI700

狀  態:正常點擊量:2919

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上海非利加實業有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快遞

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CMI760測厚儀配置包括:
  • CMI760測厚儀主機
  • SRP-4探頭
  • SRP-4探頭替換用探針模塊(1個)
  • NIST認證的校驗用標準片
CMI760測厚儀選配配件:
  • ETP探頭
  • TRP探頭
  • SRG軟件

 

 
技術參數

 

SRP-4面銅探頭測試技術參數:

銅厚測量范圍:
化學銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
 
準確度:±1% (±0.1 μm)參考標準片
精確度:化學銅:標準差0.2 %;電鍍銅:標準差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
 
 
ETP孔銅探頭測試技術參數:

可測試*小孔直徑:35 mils (899 μm)
測量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標準的相關規定
 
準確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精確度:1.2 mil(30μm)時,達到1.0% (實驗室情況下)
分辨率:0.01 mils (0.1μm)
 
 
TRP-M(微孔)探頭測試技術參數:

*小可測試孔直徑范圍:10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
孔內銅厚測試范圍:0.5-2.5mils(12.7-63.5μm)
可測試板厚:175mil (4445 μm)
*小可測試板厚:板厚的*小值必須比所對應測試線路板的*小孔孔徑值高3mils(76.2μm)
 
準確度(對比金相檢測法):±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
精確度:不建議對同***孔進行多次測試
分辨率:0.01 mil(0.1 μm)


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