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ST2000薄膜厚度測量儀

價  格:詢價

產  地:更新時間:2021-01-15 17:58

品  牌:型  號:

狀  態:正常點擊量:2379

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上海非利加實業有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快遞

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ST2000薄膜厚度測量儀特點

1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數據。

3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4) 可測量3層以內的多層膜。

5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。

6) 產品款式多樣,而且也可以根據顧客的要求設計產品

7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP專用) 

ST2000薄膜厚度測量儀產品規格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ...
Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4
semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage
Auto Focusing
CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching
Entry-level CD Measurement


產品參數


產品介紹



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