微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-21
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2020-12-15 10:34
品 牌:其他型 號(hào):C11011-21
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2758
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產(chǎn)品介紹
微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-21
詳細(xì)介紹
詳細(xì)參數(shù)
型號(hào) | C11011-21 |
可測(cè)膜厚范圍(玻璃) | 25 μm to 2200 μm*1 |
光源 | Infrared LD (1300 nm) |
光斑尺寸 | Approx. φ60 μm*4 |
工作距離 | 155 mm*4 |
可測(cè)層數(shù) | Max. 10 layers |
分析 | Peak detection |
測(cè)量時(shí)間 | 16.7 ms/point*5 |
外部控制功能 | RS-232C, Ethernet |
電源 | AC100 V to AC240 V, 50 Hz/60 Hz |
功耗 | Approx. 50 VA |
接口 | USB 2.0 (Main unit - Computer) |
可測(cè)膜厚范圍(硅) | 10 μm to 900 μm*2 |
測(cè)量可重復(fù)性(硅) | 100 nm*3 |
測(cè)量準(zhǔn)確度(硅) | < 500 μm: ±0.5 μm, > 500 μm: ±0.1 %*3 |
* 1:玻璃折射率相同。
* 2:硅折射率相同。
* 3:測(cè)量硅時(shí)為標(biāo)準(zhǔn)偏差。
* 4:可選1000毫米工作距離的型號(hào)。 (型號(hào)C11011-01WL)
* 5:***短曝光時(shí)間。
產(chǎn)品特性
● 利用紅外光度測(cè)定進(jìn)行非透明樣品測(cè)量
● 測(cè)量膜厚度范圍(玻璃):25μm-2200μm
● 測(cè)量速度高達(dá)60 Hz
● 可測(cè)量層數(shù):10層
● 測(cè)量帶圖紋晶圓或帶保護(hù)膜的晶圓
● 工作距離長(zhǎng)
● Mapping功能
● 可外部控制
外形尺寸(單位:mm)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
C11011-21型光學(xué)微米膜厚測(cè)量?jī)x利用激光干涉法原理,測(cè)量速度達(dá)60Hz,適用于產(chǎn)品在線測(cè)量。此外,選配的作圖系統(tǒng)可以用于測(cè)量指定樣品的厚度分布。C11011-01W應(yīng)用廣泛,比如用于產(chǎn)品制造過(guò)程監(jiān)控或質(zhì)量控制。
C11011-21可測(cè)玻璃膜厚范圍分別為25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm,可測(cè)層數(shù)zui多為10層。