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比表面儀、比表面及孔結構分析儀
JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀
價 格:詢價
產 地:北京更新時間:2020-10-26 14:03
品 牌:精微高博型 號:JW-K型
狀 態:正常點擊量:1565
400-006-7520
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上海自提或三方快遞
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產品參數
主機功能:
(1)吸(脫)附等溫曲線測定
(2)孔徑分布測定
(3)BET比表面測定,并可測定吸附常數C 值
(4)比表面快速測定(直接對比法)
測定范圍:(1)孔徑:2nm~200nm (2)比表面:0.1~3500㎡/g
測量原理:動態常壓連續氮吸附法(國內首創)
氣體: 高純氮(99.99%)、高純氦(99.99%)
氣體流量:≤100mL/min
流量控制:穩壓穩流系統,高精度流量傳感器,數字顯示,顯示精度0.1%
測量壓力:常壓
氮氣相對壓力:調節范圍 0.05-0.98
測量重復精度:≤±3%
測試時間:
(1)BET比表面:平均每個樣品30分鐘
(2)孔徑分布:平均每個樣品3~4小時
(3)數據采集:恒流電路,氣體濃度傳感器工作站,放大及濾除雜波系統,采集速度100次/秒。
產品介紹
JW-K是基于連續動態氮吸附法,經長期研究解決了動態法測試技術的瓶頸,實現了動態法中孔范圍孔徑分布的精確測定。該產品在***內尚屬***創,極大推動了動態法技術的發展和完善。孔徑分布測定原理是依據***際上公認的毛細凝聚理論。