OPX/CPX.MCT微米劃痕儀（Micro Scratch Tester)
價 格：詢價
產 地：瑞士更新時間：2020-10-26 15:03
品 牌：CSM型 號：OPX/CPX.MC
狀 態：正常點擊量：2060
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特點
金剛石劃痕針頭
自動控制的光學顯微鏡觀察
閉環力學反饋系統
劃痕深度控制
材料表面輪廓測量
產品介紹
選件
擺動劃痕模式
高分辨率CCD光學顯微鏡，共焦顯微鏡，原子力顯微鏡
多種劃痕針頭
壓入測試模塊選件
溫度控制
微米劃痕測試儀(30mN - 30N)
微米***劃痕測試儀被廣泛應用于界定薄膜與基體的結合強度，薄膜厚度***般小于５微米。它還被用于分析有機、無機，軟質和硬質薄膜的破壞形式。薄膜材料包括PVD, CVD, PECVD單層或多層薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，和其他應用于各種領域的薄膜，包括光學、微電子、保護性薄膜、裝飾性涂層等領域。基體材料可以為硬質或軟質材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物、以及有機材料等。
CSM劃痕測試儀器專門用于定量測定薄膜材料的機械性質：膜基結合強度、涂層失效形式以及基體變形尺度等。劃痕測試儀綜合多種高精度傳感器定量測定膜基系統的各種重要參數，是科學研究和工業研發質檢領域不可或缺的工具。
滬公網安備31011502016460號
