儀器系統的組成主要包括三部分
1)主機(光學元件),標志為MasterSizer 2000;主機用來收集測量樣品內粒度大小的原始數據。
2)附件(進樣器),標識為Hydro 2000G(普通濕法);附件唯一的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機以便于測量。
3)計算機和Malvern測量軟件;Malvern 軟件可定義、控制整個測量過程,并同時處理測量的粒度分布數據、顯示結果并打印報表。
常用的粒度測量方法
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫爾特顆粒計數器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
各種方法的優缺點
篩分法:優點:簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點:不能用于40μm以細的樣品;結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法:優點:簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點:速度慢、代表性差,無法測超細顆粒。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優點:操作簡便,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大。 缺點:測試時間較長。
電阻法:優點:操作簡便,可測顆??倲?,等效概念明確,速度快,準確性好。 缺點:測試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質應具備嚴格的導電特性。
電鏡法:優點:適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點:樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法:優點:可對高濃度漿料直接測量。 缺點:分辨率較低。
透氣法:優點:儀器價格低,不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體。 缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。
激光法:優點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。 缺點:儀器造價較高但性能穩定。