Ossila四點(diǎn)探針系統(tǒng)
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：英國更新時(shí)間：2020-11-02 17:02
品 牌：Ossila型 號：Ossila
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1973
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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廣泛的測量范圍 - 四點(diǎn)探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。
非破壞性測試 - 設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了精密樣品的測量，四點(diǎn)探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時(shí)仍能提供良好的電接觸。
節(jié)省空間的設(shè)計(jì) - 通過垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c(diǎn)探頭的占地面積降至zui低（總臺面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實(shí)驗(yàn)室中使用。
易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開始使用！ 直觀的界面和清潔的設(shè)計(jì)，簡化了薄膜電阻的測量。
快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測量和計(jì)算，從而使材料表征變得毫不費(fèi)力。
要忘記保存您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) - 用于測量的設(shè)置會與數(shù)據(jù)***起保存，從而輕松查看實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)信息。 此外，這些設(shè)置文件可以通過相同的軟件加載，加快重復(fù)測量和材料表征。 用更少的時(shí)間重復(fù)測量，您的研究成果可以顯著增加。
產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)參數(shù)：
當(dāng)前范圍10 nA到100 mA薄層電阻范圍10mΩ/□至10MΩ/□測量精度< ±4%測量精度±0.5% |
探針間距 | 1.27毫米 |
矩形樣本大小范圍 | 長邊zui小值：4毫米 短邊zui大值：60毫米 |
圓形樣品尺寸范圍（直徑） | 4毫米到76.2毫米 |
zui大樣品厚度 | 5毫米 |
總體尺寸 | 寬度：120毫米 高度：100毫米 深度：300毫米 |
支持的操作系統(tǒng) | Windows Vista,7,8和10（64位） |
zui小顯示器分辨率 | 1440 x 900 |
建議的監(jiān)視器分辨 | 1920 x 1080 |
所需的硬盤空間 | 400 MB |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
