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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
環境可控型掃描探針顯微鏡SPA300HV
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-11-25 15:21
品 牌：SII型 號：SPA300HV
狀 態：正常點擊量：1784
400-006-7520
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上海自提或三方快遞
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特點
1.可簡單調整光學系統，隨時調整由真空排氣系統所引起的錯位。
2.即使在抽真空后，也可實現垂直的高放大率的樣品和探針的觀察。
3.微米***的樣品調整可能。方便且簡潔地捕捉測定點。
產品參數
| 型號SPA-300HV檢測系統·光杠桿方式·半導體激光和4等分的置換檢測系統真空度10-5Pa分辨率·面內：0.3nm·垂直：0.01nm樣品尺寸25mmφ x5mm樣品移動機構XY（±5mm）掃描范圍·標準 20μm·最大 150mμ(可選)溫度控制-120 ~800C防振機構空氣彈簧式防振臺（自動水準器）真空排氣系統·磁懸浮型渦輪增壓泵（300L/sec）·直連型機械旋轉泵（250L/min）
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產品介紹
產品介紹:
SPA-300HV第***次只將探針和樣品放入真空倉的掃描探針顯微鏡。在10-5Pa的真空度下實現SMP測定。除與在大氣環境下工作的設備***樣可完成各種測定外，還適合于樣品的加熱、冷卻等多種用途。
滬公網安備31011502016460號
