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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
RHK 掃描探針顯微鏡
價 格:詢價
產 地:美國更新時間:2020-10-21 14:41
品 牌:RHK型 號:
狀 態:正常點擊量:2150
400-006-7520
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美***RHK Technology 成立于1981 年。作為SPM 工業中的領軍儀器制造商,RHK-Technology 始終保持著鮮明的特色:創新性、可靠性、產品設計的開放性與***的客戶支持。憑借著其優異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與世界***科學***的緊密合作,二十多年來RHK Technology 源源不斷地向全世界科學***們輸送著先進的、高精度的科學分析儀器。
變溫QuadraProbe UHV 4-探針SPM系統是RHK公司生產的多探針UHV SPM系統中的***種,該系統中含有多個真空腔,可分別用于樣品的存放、制備和物性分析;配備了STM、SAM和MBE以及其他的儀器;每個探針可獨立操作從而達到原子分辨;工作溫度<10 K (用LHe冷卻);SEM分辨率<10 nm。
- 四個STM探針均可達到原子分辨
- 樣品物性的變溫測量<10 k="">1000 K
- 使用Bath型的低溫保持器,LHe的消耗達到***小化
- 四個探針均可獨立操作
- 可用戶編程的探針控制功能
- STM均可升***到AFM功能
產品參數
樣品溫度范圍:10 K-1500 K;
最大掃描范圍:8μm;
X、Y、Z三維粗定位:±1.5mm/step;
樣品定位:±1.5mm;
STM分辨率: 四個探針均可實現HOPG的原子分辨
SEM分辨率:<10nm
探針材料:W, or W coated with Pt, Au, or other metals