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工作模式
1. 包括接觸、側(cè)向力、動態(tài)模式如間歇式接觸模式、非接觸模式、相差、拉力力譜、力成像、導(dǎo)電AFM等所有AFM標(biāo)準(zhǔn)模式，亦能進行納米刻蝕、納米操控，細胞與基底或者細胞間相互作用力譜實驗
2. 所有操作可在特定氣體、大氣和液相（如生理緩沖液等）
3. 化學(xué)穩(wěn)定的探針夾具，由石英玻璃與鍍金的不銹鋼彈性片組成，夾具可進行超聲、表面活性劑、酸以及溶劑超聲清洗
4. 先進的拉力力譜設(shè)計，可用于單分子、生物膜、黏附與彈性量測等研究
5. 量測中可在100微米×100微米進行掃描范圍的快速任意選取
6. 可擴展成100微米長程z軸（CellHesion Development Kit）用于細胞黏附的研究，以及針尖增強光譜（TAO Module，原子力－光學(xué)聯(lián)用系統(tǒng)）

光學(xué)性能
1. 所有主流研究***倒置光學(xué)顯微鏡（Zeiss、Olympus、Leica、Nikon）可匹配JPK掃描頭
2. 與AFM匹配的光學(xué)性能如亮場、暗場、相差、熒光、DIC、CLSM、TIRF、FRET等所有使用功能不會降低、同時AFM性能亦可完全使用

樣品臺
1. 穩(wěn)定的機械設(shè)計方式承載掃描樣品與AFM掃描頭
2. ***大樣品尺寸：直徑14cm，高2cm
生物型
    適用于倒置光鏡的透光照明模式（相差、DIC等）
    適用于標(biāo)準(zhǔn)載具如培養(yǎng)皿（至55mm）、載玻片、蓋玻片等
    適用于高NA值的物鏡
標(biāo)準(zhǔn)型
    適用于標(biāo)準(zhǔn)載具如培養(yǎng)皿（至75mm直徑）、載玻片等
    足夠空間放置JPK或客戶自制液相池
    樣品磁性固定

環(huán)境控制配件可供選擇

1.   采用PI平板壓電掃描器，無管式壓電管的bow效應(yīng)，能同時進行光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡量測
2.   最大掃描范圍：100×100×15微米（閉環(huán)）
3.   探針掃描設(shè)計，液相量測情況下不會損壞壓電陶瓷
4.   分辨率：云母晶格圖像（接觸模式、高解析模式）
5.   針尖定位噪聲水平（RMS） 
      大氣條件下：垂直方向小于0.08nm，水平方向小于1nm（閉環(huán)）； 
      液相條件下：懸臂偏移小于0.3nm（彈性系數(shù)0.03N/m，溫度20攝氏度）
6.   最先進的電容式探針位置傳感器，全程xy掃描線性化達0.03％，保證探針的重復(fù)定位與長時間穩(wěn)定定位
7.   智能馬達進針，漂移跟蹤設(shè)計消除樣品加熱膨脹的影響
8.   xyz三軸掃描方向硬件線性化設(shè)計提供了高端的量測性能
9.   采用850nm波長激光源，不會影響匹配倒置光鏡的光學(xué)量測
10. 探針彈性系數(shù)的熱噪聲方法自動校正

德***JPK公司生產(chǎn)的NanoWizard?原子力顯微鏡專注于軟物質(zhì)與生物科學(xué)領(lǐng)域的，高解析成像，其度獨特的設(shè)計方式提供了從微觀光學(xué)顯微鏡觀測到納米尺度高清晰成像的完美銜接，同時與傳統(tǒng)設(shè)計方法不同的是JPK公司的設(shè)計方式使得光學(xué)顯微鏡觀測性能與原子力顯微鏡的測量性能都不受影響，使得高分辨、原位、動態(tài)的原子力成像研究更加便捷。


NanoWizard?原子力顯微鏡可實現(xiàn)高清晰的大氣或溶液相成像、進行單分子或者細胞的拉力實驗、進行精確的納米操控與刻蝕。100×100×15微米的掃描范圍適用于生物細胞等大體積的樣品，且平板掃描器規(guī)避了管式掃描器的缺點，采用電容式位置傳感器實現(xiàn)xy平面精確的定位。掃描器的設(shè)計方式兼容所有的顯微鏡的工作模式，如亮場、暗場、熒光等。采用探針掃描方式與防水設(shè)計，保證了在實驗過程中壓電陶瓷的安全。人性化的軟件設(shè)計使得操作更加方便、快捷、準(zhǔn)確，且可通過腳本實現(xiàn)特定的實驗需要。